Métodos Físicos de Análisis de Capas Finas y Superficies de Sólidos

Métodos Físicos de Análisis de Capas Finas y Superficies de Sólidos

Curso de Especialización en CIENCIA y TECNOLOGIA de MATERIALES, Curso de Postgrado.

Este curso de postgrado pretende familiarizar a los asistentes con algunos de los métodos físicos de análisis más utilizados en la actualidad para la caracterización de materiales, en especial de aquellos que están constituidos por capas finas, y de sus superficies. El curso, de carácter intensivo y cinco días de duración, consta de clases teóricas y sesiones prácticas. Estas últimas se desarrollarán con grupos reducidos de alumnos, empleándose para ellos el equipamiento científico disponible en el Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla y el Centro Nacional de Aceleradores. El contenido y enfoque de los temas y otras actividades del curso son eminentemente prácticos, estando dirigido a científicos e ingenieros especializados en temas de análisis, diagnóstico, investigación en superficies, etc. También se considera especialmente adecuado para alumnos de tercer ciclo relacionados con la temática tratada.

Plazo límite de inscripción: 10 de junio de 2018

PROGRAMA

Lunes, CLASES TEÓRICAS 25 de junio

  • INTERACCIÓN DE FOTONES, ELECTRONES E IONES CON LA MATERIA CONDENSADA. MÉTODOS FÍSICOS DE ANÁLISIS DE CAPAS FINAS Y SUPERFICIES DE SOLIDOS. Dra. Asunción Fernández
  • ESPECTROSCOPÍA DE FOTOEMISIÓN DE RAYOS X: COMPOSICIÓN SUPERFICIAL. Dr. Juan Pedro Espinós
  • ESPECTROSCOPÍA DE FOTOEMISIÓN DE RAYOS X: ESTADO QUÍMICO EN LA SUPERFICIE DE SÓLIDOS. Dr. Agustín R. González-Elipe
  • PÉRDIDA DE ENERGÍA DE ELECTRONES EN SUPERFICIES: PERFILES DE COMPOSICION Y CARACTERIZACIÓN ÓPTICA EN EL EUV. Dr. Francisco Yubero
  • CARACTERIZACIÓN ÓPTICA Y VIBRACIONAL:UVVISIBLE, ELILPSOMETRÍA Y COLOR. Dr. Francisco Yubero Valencia

Martes, CLASES TEÓRICAS 26 de junio

  • MICROSCOPÍA DE EFECTO TUNEL. Dr. Juan Ramón Sánchez
  • PLASMAS EN LA TECNOLOGÍA DE PELÍCULAS DELGADAS. Dr. José Cotrino
  • MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN Y BARRIDO: FUNDAMENTOS Y APLICACIONES GENERALES. Dra. Asunción Fernández
  • MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO. Dra. Mª Carmen Jiménez
  • ESPECTROSCOPIAS ELECTRÓNICAS: X-EDS y EELS. IMÁGENES FILTRADAS EN ENERGÍA (EFTEM). Dra. Cristina Rojas
  • NANOMANIPULACIÓN, PROCESADO Y ANÁLISIS DE PROPIEDADES EN EL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO. Dra. Ana Borras.

Miércoles, CLASES TEÓRICAS 27 de junio

  • ANÁLISIS TRIBOLÓGICO Y MECÁNICO DE CAPAS DELGADAS. Dr. Juan Carlos Sánchez
  • DIFRACCIÓN y REFLECTOMETRÍA DE RAYOS X DE PELÍCULAS DELGADAS. Dr. José Mª Martínez
  • MICROSCOPÍAS DE FUERZAS ATÓMICAS. Dra. Carmen López
  • CARACTERIZACIÓN ÓPTICA Y VIBRACIONAL DE PELÍCULAS DELGADAS: FLUORESCENCIA, INFRARROJO Y RAMAN. Dr. Angel Barranco.
  • LA ABSORCION DE RAYOS X, EXAFS Y XANES DE PELÍCULAS DELGADAS. Dr. Juan Pedro Holgado.
  • RETRODISPERSIÓN RUTHERFORD: PERFILES DE COMPOSICIÓN DE PELÍCULAS DELGADAS. Dr. Javier García.

jueves y viernes: PRÁCTICAS 28 y 29 de junio

  • A. MICROSCOPÍAS ELECTRÓNICAS DE TRANSMISIÓN Y BARRIDO. Dra. Cristina Rojas , Dra. Mª Carmen Jiménez., Lda. Olga Montes
  • B. ESPECTROSCOPIA DE FOTOEMISIÓN, XPS. Dr.Juan Pedro Holgado, Dra.Florencia Vattier.
  • D. DIFRACCIÓN DE RAYOS X. Dr. José Mª Martínez
  • E. RETRODISPERSIÓN RUTHERFORD. Dr. Javier García
  • F. MICROSCOPÍA DE FUERZAS ATÓMICAS. Dra. Carmen López, Dr. Juan Ramón Sánchez
  • G. ESPECTROSCOPIA DE FOTOEMISIÓN, UPS. Dr. Juan Pedro Espinós,
  • H. ABSORCION DE RAYOS X, EXAFS Y XANES. Dr. Juan Pedro Holgado.